IEC 60147-0-1966 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第0部分:总则和术语

作者:标准资料网时间:2024-05-05 02:16:00 浏览:9102 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Essentialratingsandcharacteristicsofsemiconductordevicesandgeneralprinciplesofmeasuringmethods.Part0:Generalandterminology
【原文标准名称】:半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第0部分:总则和术语
【标准号】:IEC60147-0-1966
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1966
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电子工程;半导体器件;定义;特性;极限(数学);半导体;术语;测量;电气工程
【英文主题词】:semiconductordevices;properties;definitions;limits(mathematics);semiconductors;terminology;measurement;electronicequipmentandcomponents;electronicengineering;electricalengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370
【页数】:57P;A4
【正文语种】:英语

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